鑄鐵平板平面度誤差的測(cè)量方法很多，常用的有如下所列的方法： 

光隙法 

  將被測(cè)直線和測(cè)量基線間形成的光隙，與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較，測(cè)量不同方向的若干個(gè)截面上的直線度誤差，取其中最大值，作為平面度誤差近似值的方法。該方法適用于磨削或研磨加工的小平面的鑄鐵平板平面度誤差測(cè)量。 

指示器法

  將被測(cè)零件支撐在測(cè)量平板上，鑄鐵平板工作面為測(cè)量基準(zhǔn)，按一定的方式布點(diǎn)，用指示器對(duì)被測(cè)面上各點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量并記錄所測(cè)數(shù)據(jù)，然后，按一定的方法評(píng)定其誤差值。該方法適用于中、小平面的鑄鐵平板平面度誤差測(cè)量。 

光軸法

  以幾何光軸建立測(cè)量基面，測(cè)出被測(cè)面相對(duì)測(cè)量基面的偏離量，進(jìn)而評(píng)定鑄鐵平板平面度誤差值的方法，該方法適用于一般精度大平面的鑄鐵平板平面度誤差測(cè)量。 

干涉法

  利用光波干涉原理，根據(jù)干涉條紋形狀、條數(shù)，來(lái)確定平面度誤差值的方法，該方法適用于精研表面的鑄鐵平板平面度誤差測(cè)量。 

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

  三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是綜合利用精密機(jī)械、微電子、光柵和激光干涉儀等先進(jìn)技術(shù)的測(cè)量?jī)x器，其原理是在三個(gè)相互垂直的方向上，有導(dǎo)向機(jī)構(gòu)、測(cè)長(zhǎng)元件、數(shù)顯裝置，有一個(gè)能夠放置工件的工作臺(tái)，測(cè)頭可以以手動(dòng)或機(jī)動(dòng)方式，輕快地移動(dòng)到被測(cè)點(diǎn)上，由讀數(shù)設(shè)備和數(shù)顯裝置，把被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)值顯示出來(lái)的一種測(cè)量設(shè)備。 

除上面介紹的幾種方法外，還有液面法、自準(zhǔn)直儀法等，鑄鐵平板生產(chǎn)廠家常采用光學(xué)合像水平儀測(cè)定測(cè)量平板的平面度誤差。